Field Emission Scanning Electron Microscope and Focus Ion Beam (FESEM-FIB/EDS - Carl Zeiss/AURIGA)
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดรายละเอียดสูง พร้อมชุดวิเคราะห์ธาตุแบบอีดีเอส และชุดเตรียมชิ้นงานด้วยไอออน
เครื่องมือ : Field Emission Scanning Electron Microscope and Focus Ion Beam (FESEM-FIB/EDS - Carl Zeiss/AURIGA) (กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดรายละเอียดสูง พร้อมชุดวิเคราะห์ธาตุแบบอีดีเอส และชุดเตรียมชิ้นงานด้วยไอออน)
ยี่ห้อ : Carl Zeiss
รุ่น : AURIGA
ห้องปฏิบัติการ : ห้องปฏิบัติการกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด 1
Scanning Electron Microscopy Laboratory 1
(F10004A)
ผู้ดูแลเครื่องมือ : งานวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์
ความสามารถของเครื่องมือ
1) ถ่ายภาพ SEM (SE, BSE, In-lens)
2) กำลังขยายตั้งแต่ 15x - 500kx ขึ้นกับชิ้นงาน
3) ถ่ายภาพ ตัด ขุด หรือสลักภาพ ด้วย FIB-GIS
ข้อจำกัดของเครื่องมือ
1) ไม่สามารถให้บริการสำหรับกลุ่มตัวอย่าง
- ผงเหล็ก (ผงวัสดุแม่เหล็ก)
- ชิ้นงานที่เปียกชื้น
- ระเหยง่าย
- มีน้ำมัน
- มีกัมมันตภาพรังสี
อัตราค่าบริการ Download ประกาศอัตราค่าบริการ
| รายการบริการ | บาท/หน่วย | อัตรา 1 (100%) |
อัตรา 2 (75%) |
อัตรา 3 (50%) |
อัตรา 4 (นักวิจัย) |
อัตรา 5 (บัณฑิต) |