Scanning Electron Microscope (SEM-EDS - JEOL/JSM-6010LV)
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด พร้อมชุดวิเคราะห์ธาตุแบบอีดีเอส
เครื่องมือ : Scanning Electron Microscope (SEM-EDS - JEOL/JSM-6010LV) (กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด พร้อมชุดวิเคราะห์ธาตุแบบอีดีเอส)
ยี่ห้อ : JEOL
รุ่น : JSM-6010LV
ห้องปฏิบัติการ : ห้องปฏิบัติการกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด 2
Scanning Electron Microscopy Laboratory 2
(F10005A)
ผู้ดูแลเครื่องมือ : งานวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์
ความสามารถของเครื่องมือ
1) ถ่ายภาพ SEM (SE, BSE)
2) กำลังขยายตั้งแต่ 10x - 30kx ขึ้นกับชิ้นงาน
3) วิเคราะห์ EDS
ข้อจำกัดของเครื่องมือ
1) ไม่สามารถให้บริการสำหรับกลุ่มตัวอย่าง
- ผงเหล็ก (ผงวัสดุแม่เหล็ก)
- ชิ้นงานที่เปียกชื้น
- ระเหยง่าย
- มีกัมมันตภาพรังสี
อัตราค่าบริการ Download ประกาศอัตราค่าบริการ
| รายการบริการ | บาท/หน่วย | อัตรา 1 (100%) |
อัตรา 2 (75%) |
อัตรา 3 (50%) |
อัตรา 4 (นักวิจัย) |
อัตรา 5 (บัณฑิต) |
| กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด JEOL Model JSM- 6010LV | บาท/ชั่วโมง | 1,200.00 | 900.00 | 600.00 | 290.00 | 120.00 |