Scanning Electron Microscope (SEM - Hitachi/S-3400N)
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
เครื่องมือ : Scanning Electron Microscope (SEM - Hitachi/S-3400N) (กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด)
ยี่ห้อ : Hitachi
รุ่น : S-3400N
ห้องปฏิบัติการ : ห้องปฏิบัติการกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด 3
Scanning Electron Microscopy Laboratory 3
(F10011A)
ผู้ดูแลเครื่องมือ : งานวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์
ความสามารถของเครื่องมือ
1) ถ่ายภาพ SEM (SE, BSE)
2) กำลังขยายตั้งแต่ 10x - 30kx ขึ้นอยู่กับชิ้นงาน
ข้อจำกัดของเครื่องมือ
1) ไม่สามารถให้บริการ ผงเหล็ก (ผงวัสดุเหล็ก)
2) ไม่รับชิ้นงานที่เปียกชื้น ระเหยง่าย มีน้ำมัน และมีกัมมันตภาพรังสี
อัตราค่าบริการ Download ประกาศอัตราค่าบริการ
| รายการบริการ | บาท/หน่วย | อัตรา 1 (100%) |
อัตรา 2 (75%) |
อัตรา 3 (50%) |
อัตรา 4 (นักวิจัย) |
อัตรา 5 (บัณฑิต) |
| กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด Hitachi Model 3400-NVP | บาท/ชั่วโมง | 1,200.00 | 900.00 | 600.00 | 290.00 | 120.00 |