Atomic Force Microscope (AFM - ParK Systeme/XE-120)
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
เครื่องมือ : Atomic Force Microscope (AFM - ParK Systeme/XE-120) (กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม)
ยี่ห้อ : Park Systems
รุ่น : XE-120
ห้องปฏิบัติการ : ห้องปฏิบัติการกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
Atomic Force Microscopy Laboratory
(F10014A)
ผู้ดูแลเครื่องมือ : งานวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์
ความสามารถของเครื่องมือ
1) ถ่ายภาพและวิเคราะห์ตัวอย่างแบบ Cantact mode
2) ถ่ายภาพและวิเคราะห์ตัวอย่างแบบ Non-Cantact mode
3) วิเคราะห์ตัวอย่างแบบ Advenced mode
4) พื้นที่ในการสแกน ไม่เกิน 90 micron
ข้อจำกัดของเครื่องมือ
1) ความสูงต่ำของตัวอย่างต้องไม่เกิน 15 micron
อัตราค่าบริการ Download ประกาศอัตราค่าบริการ
| รายการบริการ | บาท/หน่วย | อัตรา 1 (100%) |
อัตรา 2 (75%) |
อัตรา 3 (50%) |
อัตรา 4 (นักวิจัย) |
อัตรา 5 (บัณฑิต) |